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자동 홀로그램

​CT / X-Ray 시스템 VCT & X-Ray System

개   요

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대형 검사용 CT 시스템

XT H 450

모델

XT H450

대형 검사용 CT 시스템

가장 까다로운 검사 요구사항에 맞게 여러 소스와 검출기를 지원하는 대규모 검사 범위를 갖춘, 구성 가능한 방식의 X-ray 및 CT 시스템.

니콘의 고성능 대형 엑스레이 및 CT 시스템은 최고의 다목적성을 제공합니다. 연구, 자동차, 리튬 이온 배터리 제조, 항공우주 등의 분야에서 크고 작은 부품을 검사하도록 구성할 수 있습니다.

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정확한 X선 및 CT 스캔을 위한 광범위한 옵션

초정밀 화강암 디자인, 대규모 검사 범위, 다중 소스 및 검출기 지원, 직관적인 소프트웨어 및 고급 스캐닝 모드는 이러한 시스템을 모든 응용 분야에 대응하는 다목적 검사 플랫폼으로 맞춤 구성하는 데 있어 이상적인 조건을 제공합니다.

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구성 가능한 시스템 제품 목록

단일 소스가 있는 단일 캐비닛 시스템부터 배전반실에 삼중 소스를 갖춘 최대 2.5m 높이의 구성까지, 모든 응용 분야에 대해 솔루션을 구성할 수 있습니다.

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다중 소스 유연성

니콘의 180~450kV 마이크로포커스 범위에서 최대 3개의 소스를 선택하여 언제나 부품 크기, 해상도 및 스캔 속도의 필수 조합에 알맞은 소스를 사용할 수 있습니다.

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이중 검출기 유연성

픽셀 크기가 작고 고속 노출이 가능한 업계 최고 성능의 Nikon 대면적 평판 검출기와 선형 CLDA 검출기를 결합하면 단일 시스템에서도 높은 처리량과 놀라운 이미지 품질의 스캔을 모두 실현 가능합니다.

OPC UA와의 생산라인 통합 :

Nikon X-Ray시스템과 제조실행 시스템의 통합은 표준 프로토콜을 통해 실현 됩니다.

세계 유일의 450kV 마이크로 포커스 발생장치 :

​고 밀도 구성품의 검사를 위해 80μm급 고 해상도 스팟 크기와 고 에너지를 동시에 제공하는 세계 유일의 제품 입니다.

고유한 성능의 225kV Rotating.Target2.0 :

동일한 전려긴 경우 최대 3배 더 높은 해상도로 최대 450W 까지 연속 작동할 수 있고 동일한 해상도의 경우 3배 더 빠른 데이터 수집이 가능 합니다.

'대형 샘플을 위한 전용 스캔 모드 :

​고속 패널 스캔 모든는 검출 위치보다 최대 4배 폭이 넓은 샘플에 대해 확장된 시야각을 제공해 주고, X.Tend는 단일 연속 나선형 스캔을 사용하여 길이가 긴 부품에 대해서도 아티팩트가 없는 데이터를 생성 합니다.

자동화된 검출기 평가 :

평판 검출기는 ASTM E2597 표준에 부합 하므로, 사용자는 ASTM E2737에 따라 이 검출기의 성능을 평가하고 추적함으로써 오랜 시간에 걸쳐 신뢰할 수 있는 검사 효율성과 정확도를 보장할 수 있습니다.

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010-2435-7005

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