주식회사 나노정밀코리아
NANO Metrology KOREA Co., Ltd.
산업용 현미경 | Industrial Microscope
반도체 검사 현미경
L300ND/L300N/L200ND/L200N
반도체 현미경 으로 집적 회로(IC), 평판 디스플레이(FPD), 대규모집적회로(LSI) 전자 장치, 기타 응용 분야의 검사에 적합합니다.
니콘 CFI60-2 광학 시리즈 :
니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.
7가지의 관찰 방법 :
명시야/ 암시야/ 편광(POL)/ 미분 간섭 (DIC)/ 에피 형광 및 이중 빔 간섭계/ 위상차.
지능형 디지털 커뮤니케이션:
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
산업용 현미경
LV100NDA / LV100ND
모듈형 정립 현미경 시리즈는 광 범위한 반사 및 투과 광학 대비 기법을 사용하고 디지털 이미징 카메라 액세서리를 장착할 수 있어 여러 산업 응용 분야의 재료 검사에 적합합니다.
모듈형 구성품 액세서리
조명 에서 접안렌즈에 이르기까지 사용자의 응용 분야에 맞게 구성품을 선택할 수 있습니다. 구성은 스탠드/ 스테이지/ 대물 렌즈/ 노즈피스/ 광학 헤드/ 접안렌즈/ 디지털 카메라/ 필터 및 제반 액세서리가 포함됩니다.
니콘 CFI60-2 광학 시리즈 :
니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.
7가지의 관찰 방법 :
명시야/ 암시야/ 편광(POL)/ 미분 간섭 (DIC)/ 에피 형광 및 이중 빔 간섭계/ 위상차.
지능형 디지털 커뮤니케이션:
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
산업용 현미경
LV150NA / LV150N
다양한 관찰기법 [BF-DF-DIC-POL-형광-간섭법]을 위한 유연한 모듈형 정립 현미경 시리즈가 디지털 이미징 액세서리 및 대형 스테이지 XY 이동 기능과 함께 결합되어 반도체 및 재료 검사 용도로 이상적인 솔루션을 제공합니다.
모듈형 구성품 액세서리
조명 에서 접안렌즈에 이르기까지 사용자의 응용 분야에 맞게 구성품을 선택할 수 있습니다. 구성은 스탠드/ 스테이지/ 대물 렌즈/ 노즈피스/ 광학 헤드/ 접안렌즈/ 디지털 카메라/ 필터 및 제반 액세서리가 포함됩니다.
니콘 CFI60-2 광학 시리즈 :
니콘의 혁신적인 설계로 고대비, 명시야, 암시야, 편광(POL), 차등 간섭 대비(DIC), 이중 빔 간섭측정 광학 대비를 포함한 선명한 영상 기법을 이용할 수 있습니다.
7가지의 관찰 방법 :
명시야/ 암시야/ 편광(POL)/ 미분 간섭 (DIC)/ 에피 형광 및 이중 빔 간섭계/ 위상차.
지능형 디지털 커뮤니케이션:
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
편광 현미경
LV100N POL / Ci-POL
편광 현미경인 ECLIPSE LV100N POL 및 Ci-POL 시리즈는 이미지 대비와 색상 변화를 관찰하여 비등방성 시료의 복굴절 특성을 연구하는 데 사용됩니다. 니콘은 양적 연구 및 질적 연구 모두를 위한 시스템을 제공합니다.
니콘 CFI60-POL 대물렌즈 시리즈 :
니콘의 혁신적이고 변형이 없으며 긴 작동 거리와 높은 개구수를 자랑하고 친환경 유리 부품을 사용한 POL 대물렌즈는 관찰자와 디지털 카메라에 선명한 고대비 이미지를 전달합니다.
투과 및 반사 조명 :
LV-UEPI-N 조명으로 표면관찰 연구를 수행할 수 있습니다. 12V-50W 램프하우스는 반사 및 투과 조명용으로 사용됩니다. 관찰시 조명을 간단한 작동으로 전환할 수 있습니다.
30mm의 긴 초점 스트로크 :
LV100N POL 및 Ci-POL은 일반 표면관찰 및 투과관찰 현미경 모델의 범위를 넘어서는 30mm의 매우 긴 초점 범위 덕분에 높이가 높은 대량 샘플도 수용할 수 있습니다.
지능형 디지털 커뮤니케이션:
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
도립 현미경
MA200
니콘의 최신 기술이 집약된 모듈식 인체공학적 도립식 금속 현미경
ECLIPSE MA200은 혁신적인 박스형 디자인 컨셉에 기반을 둔 유연한 모듈형 도립 현미경으로 에피스코픽 광학 대비 검사에 사용됩니다. 디지털 이미징 액세서리와 함께 사용하면 여러 산업 응용 분야의 금속 재료 검사 작업에 적합합니다
다양한 관찰 기법 :
반사광 에서 명시야/ 암시야/ 편광(POL)/ 미분 간섭 (DIC)/ 도립 현미경 설계로 인해 샘플 표면의 레벨링이 필요 없습니다.
모듈형 구성품 액세서리 :
램프하우스에서 접안렌즈에 이르기까지 사용자의 응용 분야에 맞게 램프하우스, 스테이지, 대물렌즈, 노즈피스, 광학 헤드, 접안렌즈, 디지털 카메라, 필터, 대비 기술 액세서리 등의 구성품을 선택할 수 있습니다.
지능형 디지털 커뮤니케이션:
이 현미경은 USB를 통해 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어에 연결하면 사용 중인 대물렌즈, 광도, 에피스코픽 조명, 조리개를 감지하고 제어합니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
도립 현미경
MA 100
컴팩트하고 견고하며 사용자 친화적인 도립식 금속 현미경
니콘의 ECLIPSE MA100N은 합리적인 비용, 유연함, 콤팩트함을 자랑하는 모듈형 도립 현미경으로 디지털 이미징 카메라 액세서리와 함께 사용하여 에피스코픽 광학 대비 기술을 구현합니다. 여러 산업 응용 분야의 금속 재료 검사에 적합합니다.
니콘 CFI60-2 광학계 :
니콘의 CFI60-2 TU Plan EPI 대물렌즈 시리즈는 가장 긴 작동 거리와 고급 색수차 보정 시스템의 조합을 자랑합니다.
LED 조명, 컴팩트한 바디 :
전용 LED 조명을 통합하여 제품 수명이 길고 전력 소비가 적으며 산란광을 만들어 원치 않는 음영 효과를 방지합니다. MA100N은 컴팩트하며 견고한 구조를 가지고 있습니다.
모듈형 구성품 액세서리 :
사용자의 응용 분야에 맞게 광학 구성품을 선택할 수 있습니다. MA100N에는 니콘 Digital Sight 카메라의 사진 포트로 향하는 세 번째 광학 경로(선택 사양)가 있습니다. 이미지 분석은 니콘의 NIS-Elements 소프트웨어 제품군 내에서 수행됩니다.
모듈 스테이지, 물체 홀더 :
MA100N은 3-플레이트 스테이지 디자인을 사용하여 미끄러짐 없이 샘플을 이동할 수 있습니다. 플레인 스테이지 디자인에는 기계식 스테이지(선택 사양)와 다양한 홀더가 준비되어 있습니다.
인체공학적 설계 :
사용자 친화적 최적 위치 설정과 가변각 경통을 이용하여 피로감 없는 작업이 가능합니다. 항상 정면의 정방향 이미지를 제공하므로 원료, 반도체 및 산업용 부품을 정확하게 관찰할 수 있습니다.
웨이퍼 자동 이송 장치
NWL200
다양한 웨이퍼 처리를 위한 정교하고 신뢰할 수 있는 웨이퍼 전송 장치
NWL 시리즈는 니콘의 탁월한 반도체 웨이퍼 로더 제품군으로 6인치(150mm) 및 8인치(200mm) 직경의 웨이퍼를 두께 100마이크론(선택 사양)으로 전환하여 니콘 Eclipse L200N 및 LV150N 현미경 또는 NEXIV VMZ-S 비디오 측정 시스템으로 보낼 수 있습니다.
반도체 생산에서의 높은 안정성 :
전원 공급이 예기치 않게 중단되어도 매크로 암의 진공 척은 작동 상태를 유지하면서 웨이퍼를 안전하게 분리할 수 있습니다.
매크로 검사 기능 :
반도체 웨이퍼 전면 패턴, 후면 주변부 및 중앙 영역 검사를 지원합니다. 웨이퍼 회전 속도와 경사각은 자동 또는 수동식으로 설정 가능합니다.
처리량의 극대화를 위한 설계 :
비접촉식 센터링 메커니즘을 갖춘 고속 웨이퍼 카세트 엘리베이터는 최고의 정밀도로 웨이퍼를 로딩 및 언로딩하기 위한 다중 암 시스템을 사용하여 웨이퍼를 빠르고 정확하게 정렬합니다.
인체공학적 설계 :
NWL200은 인체공학적으로 설계되어 작동과 제어가 간편합니다. 왼쪽으로 35도 각도가 적용되어 있어 슬롯 내 웨이퍼 배치와 전체 카세트 교환이 용이합니다.
이미징 소프트웨어
NIS ELEMENTS
니콘 NIS-Elements 이미징 소프트웨어
NIS-Elements는 모든 기능을 갖춘 현미경용 이미징 소프트웨어 솔루션입니다. 예를 들어 샘플 표면 상의 긴 미세 균열을 처음부터 마지막까지 따라가는 등 여러 개별 이미지에서 모자이크 또는 합성 이미지를 만드는 경우에서 빠르고 강력한 이미징 처리 도구를 활용할 수 있습니다. 산업 응용 분야용 니콘 제품군에는 NIS-Elements AR(Advanced Research, 고급 연구), BR(Basic Research, 기본 연구), D(Documentation, 기록), L(태블릿 PC용)이 있습니다.
NIS-Elements BR :
현미경 이미지 분석 및 사진 기록 등 표준 연구 응용 분야를 위해 개발된 NIS-Elements BR은 최대 4차원으로 이루어지는 획득과 고급 장치 제어 기능을 제공합니다.
NIS-Elements D :
NIS-Elements D는 사진 기록용 소프트웨어 패키지로 기본 측정 도구 및 보고 도구가 포함되어 있습니다.
NIS-Elements L :
NIS-Elements L을 사용하여 태블릿 PC에서 Digital Sight 1000, DS-Fi3 및 DS-Ri2 카메라에 대한 이미지를 간편하게 확인하고 획득 설정을 제어할 수 있습니다.
NIS-Elements는 모든 기능을 갖춘 현미경용 이미징 소프트웨어 솔루션입니다. 예를 들어 샘플 표면 상의 긴 미세 균열을 처음부터 마지막까지 따라가는 등 여러 개별 이미지에서 모자이크 또는 합성 이미지를 만드는 경우에서 빠르고 강력한 이미징 처리 도구를 활용할 수 있습니다. 산업 응용 분야용 니콘 제품군에는 NIS-Elements AR(Advanced Research, 고급 연구), BR(Basic Research, 기본 연구), D(Documentation, 기록), L(태블릿 PC용)이 있습니다.
